Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Otseteed: Erinevusi, Sarnasusi, Jaccard sarnasus koefitsient, Viiteid.

Erinevus Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop vs. Skaneeriv teravikmikroskoopia

Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop (inglise keeles near-field scanning optical microscope, NSOM/SNOM) on mikroskoop, mida kasutatakse nanoskaalas objektide uurimiseks. stereomikroskoobi abil, et vaadata kas mõlemad teravikud on otsiku otstes alles, sest need võivad üsna kergesti murduda Skaneeriv teravikmikroskoopia (inglise keeles scanning probe microscopy, edaspidi SPM) on mikroskoopia liik, kus proovi kolmedimensiooniline pinnakujutis saadakse teravatipulise mehaanilise sondi abil.

Sarnasusi Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia on 2 ühist asja (Unioonpeedia): Aatomijõumikroskoopia, Piesoelekter.

Aatomijõumikroskoopia

Aatomijõumikroskoobi pildid plii kihtidest, mis on saadud erinevatel vaakumsadestusmeetoditel. Tartu Ülikool Aatomijõumikroskoopia (inglise atomic force microscopy ehk AFM) on väga tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel.

Aatomijõumikroskoopia ja Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop · Aatomijõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia · Näe rohkem »

Piesoelekter

Elektripinge tekkimine piesokristalli surumisel Piesoelekter, ka piesoelektriline efekt ehk piesoefekt (kreeka keeles piezo 'rõhun') on teatava materjali, näiteks kvartskristalli ‒ piesokvartsi ‒ omadus, mille puhul tema kokkusurumisel tekib kokkusurutavate tahkude vahel elektripinge tingituna dielektrilisest polarisatsioonist, s.o erinimeliste elektrilaengute suunatud nihkumisest.

Piesoelekter ja Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop · Piesoelekter ja Skaneeriv teravikmikroskoopia · Näe rohkem »

Ülaltoodud nimekirjas vastuseid järgmistele küsimustele

Mis Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia ühist
Millised on sarnasused Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Võrdlus Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop on 20 suhted, samas Skaneeriv teravikmikroskoopia 13. Kuna neil ühist 2, Jaccard indeks on 6.06% = 2 / (20 + 13).

Viiteid

See artikkel näitab suhet Skaneeriv optiline lähiväljamikroskoop ja Skaneeriv teravikmikroskoopia. Et pääseda iga artikkel, kust teave ekstraheeriti aadressil:

Unioonpeedia on mõiste kaardi või semantiline võrgustik, korraldati nagu entsüklopeedia - sõnastik. See annab lühikese definitsiooni iga mõiste ja selle suhteid.

See on suur-line mõttekaarti mis toimib aluse kontseptsiooni diagrammid. See on tasuta kasutada ja iga artikli või dokumendi saab alla laadida. See on vahend, ressurss või viide õppe-, teadus-, haridus-, teadus- või õppetöö, mida saab kasutada õpetajad, kasvatajad, õpilaste või üliõpilaste; akadeemilise maailma: koolis, alg-, kesk-, keskkooli, keskmine tehniline tase, kolledži, ülikooli bakalaureuse-, magistri- või doktorikraadi; paberid, aruanded, projektid, ideed, dokumentatsiooni, uuringute kokkuvõtted või väitekirja. Siin on mõiste, seletus, kirjeldus, või mõtet iga olulise kohta, mis teil on vaja andmeid, ning loetelu nendega seotud mõisted nagu sõnastik. Saadaval Eesti, Inglise, Hispaania, Portugali, Jaapani, Hiina, Prantsuse, Saksa, Itaalia, Poola, Hollandi, Vene, Araabia, Hindi, Rootsi, Ukraina, Ungari, Katalaani, Tšehhi, Heebrea, Taani, Soome, Indoneesia, Norra, Rumeenia, Türgi, Vietnamese, Korea, Tai, Kreeka, Bulgaaria, Horvaatia, Slovakkia, Leedu, Filipino, Läti ja Sloveenia Varsti rohkem keeli.

Kõik andmed on saadud Vikipeedia, ja see on saadaval litsentsi alusel Autorile viitamine + jagamine samadel tingimustel.

Unioonpeedia ei ole Wikimedia Foundationi poolt heaks kiidetud ega sellega seotud.

Google Play, Android ja Google Play logo on ettevõtte Google Inc. kaubamärgid.

Privaatsuspoliitika