Töötame selle nimel, et taastada Unionpedia rakendus Google Play poes
VäljuvSaabuva
🌟Lihtsustasime oma kujundust paremaks navigeerimiseks!
Instagram Facebook X LinkedIn

Spektroskoopiline ellipsomeetria

Index Spektroskoopiline ellipsomeetria

Spektroskoopiline ellipsomeetria on optiline mõõtmistehnika, mis on mõeldud õhukeste tahkiskilede dielektriliste omaduste (nagu nt dielektriline funktsioon või kompleksne murdumisnäitaja) ning paksuse mõõtmiseks.

Sisukord

  1. 3 suhted: Õhuke tahkiskile, Optika, Röntgenpeegeldumine.

Õhuke tahkiskile

Õhuke tahkiskile on tahkest ainest koosnev õhuke materjalikiht, mis on moodustunud või adsorbeerunud teise materjali pinnale ning mille paksus varieerub mõnest nanomeetrist (mono-kiht) mikromeetrini.

Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Õhuke tahkiskile

Optika

Optika ehk valgusõpetus on füüsika haru, mis kirjeldab valguse käitumist ja omadusi, sealjuures ka aine ja valguse vastastikmõju.

Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Optika

Röntgenpeegeldumine

Röntgenpeegeldumine (või ka Röntgenpeegeldumisanalüüs või XRR, mis on akronüüm ingliskeelsest terminist X-ray reflectivity) on pinnatundlik analüütiline mõõtmismeetod, mida kasutatakse keemias, füüsikas ja materjaliteaduses siledate pindade ja õhukeste kilede karakteriseerimiseks.

Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Röntgenpeegeldumine