Sisukord
3 suhted: Õhuke tahkiskile, Optika, Röntgenpeegeldumine.
Õhuke tahkiskile
Õhuke tahkiskile on tahkest ainest koosnev õhuke materjalikiht, mis on moodustunud või adsorbeerunud teise materjali pinnale ning mille paksus varieerub mõnest nanomeetrist (mono-kiht) mikromeetrini.
Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Õhuke tahkiskile
Optika
Optika ehk valgusõpetus on füüsika haru, mis kirjeldab valguse käitumist ja omadusi, sealjuures ka aine ja valguse vastastikmõju.
Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Optika
Röntgenpeegeldumine
Röntgenpeegeldumine (või ka Röntgenpeegeldumisanalüüs või XRR, mis on akronüüm ingliskeelsest terminist X-ray reflectivity) on pinnatundlik analüütiline mõõtmismeetod, mida kasutatakse keemias, füüsikas ja materjaliteaduses siledate pindade ja õhukeste kilede karakteriseerimiseks.
Vaata Spektroskoopiline ellipsomeetria ja Röntgenpeegeldumine