Logo
Unioonpeedia
Side
Hankige see Google Play
Uus! Lae Unioonpeedia oma Android ™!
Free
Kiiremini kui brauser!
 

Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Otseteed: Erinevusi, Sarnasusi, Jaccard sarnasus koefitsient, Viiteid.

Erinevus Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Magnetjõumikroskoopia vs. Skaneeriv teravikmikroskoopia

MFM kujutised 3.2 GB ja 30 GB arvuti kõvaketta pindadest Magnetjõumikroskoopia on aatomijõumikroskoopia alaliik, mis on eelkõige mõeldud pindade magnetiliste omaduste uurimiseks. stereomikroskoobi abil, et vaadata kas mõlemad teravikud on otsiku otstes alles, sest need võivad üsna kergesti murduda Skaneeriv teravikmikroskoopia (inglise keeles scanning probe microscopy, edaspidi SPM) on mikroskoopia liik, kus proovi kolmedimensiooniline pinnakujutis saadakse teravatipulise mehaanilise sondi abil.

Sarnasusi Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia on 3 ühist asja (Unioonpeedia): Aatomijõumikroskoopia, Piesoelekter, Skaneeriv tunnelmikroskoopia.

Aatomijõumikroskoopia

Aatomijõumikroskoobi pildid plii kihtidest, mis on saadud erinevatel vaakumsadestusmeetoditel. Tartu Ülikool Aatomijõumikroskoopia (inglise atomic force microscopy ehk AFM) on väga tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel.

Aatomijõumikroskoopia ja Magnetjõumikroskoopia · Aatomijõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia · Näe rohkem »

Piesoelekter

Elektripinge tekkimine piesokristalli surumisel Piesoelekter, ka piesoelektriline efekt ehk piesoefekt (kreeka keeles piezo 'rõhun') on teatava materjali, näiteks kvartskristalli ‒ piesokvartsi ‒ omadus, mille puhul tema kokkusurumisel tekib kokkusurutavate tahkude vahel elektripinge tingituna dielektrilisest polarisatsioonist, s.o erinimeliste elektrilaengute suunatud nihkumisest.

Magnetjõumikroskoopia ja Piesoelekter · Piesoelekter ja Skaneeriv teravikmikroskoopia · Näe rohkem »

Skaneeriv tunnelmikroskoopia

Skaneeriv tunnelmikroskoopia, lühend STM (inglise keele sõnadest scanning tunneling microscopy) on meetod keemias, mis võimaldab saada pinna topograafiast kolmemõõtmelist informatsiooni ja kujutada pinda atomaarsel tasemel.

Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv tunnelmikroskoopia · Skaneeriv teravikmikroskoopia ja Skaneeriv tunnelmikroskoopia · Näe rohkem »

Ülaltoodud nimekirjas vastuseid järgmistele küsimustele

Võrdlus Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia

Magnetjõumikroskoopia on 20 suhted, samas Skaneeriv teravikmikroskoopia 13. Kuna neil ühist 3, Jaccard indeks on 9.09% = 3 / (20 + 13).

Viiteid

See artikkel näitab suhet Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia. Et pääseda iga artikkel, kust teave ekstraheeriti aadressil:

Hei! Oleme Facebookis nüüd! »