Sarnasusi Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia
Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia on 3 ühist asja (Unioonpeedia): Aatomijõumikroskoopia, Piesoelekter, Skaneeriv tunnelmikroskoopia.
Aatomijõumikroskoopia
Aatomijõumikroskoobi pildid plii kihtidest, mis on saadud erinevatel vaakumsadestusmeetoditel. Tartu Ülikool Aatomijõumikroskoopia (inglise atomic force microscopy ehk AFM) on väga tõhus meetod objektide pinna uurimiseks nii aatom- kui ka submikroonsel tasemel.
Aatomijõumikroskoopia ja Magnetjõumikroskoopia · Aatomijõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia ·
Piesoelekter
Elektripinge tekkimine piesokristalli surumisel Piesoelekter, ka piesoelektriline efekt ehk piesoefekt (kreeka keeles piezo 'rõhun') on teatava materjali, näiteks kvartskristalli ‒ piesokvartsi ‒ omadus, mille puhul tema kokkusurumisel tekib kokkusurutavate tahkude vahel elektripinge tingituna dielektrilisest polarisatsioonist, s.o erinimeliste elektrilaengute suunatud nihkumisest.
Magnetjõumikroskoopia ja Piesoelekter · Piesoelekter ja Skaneeriv teravikmikroskoopia ·
Skaneeriv tunnelmikroskoopia
Skaneeriv tunnelmikroskoopia, lühend STM (inglise keele sõnadest scanning tunneling microscopy) on meetod keemias, mis võimaldab saada pinna topograafiast kolmemõõtmelist informatsiooni ja kujutada pinda atomaarsel tasemel.
Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv tunnelmikroskoopia · Skaneeriv teravikmikroskoopia ja Skaneeriv tunnelmikroskoopia ·
Ülaltoodud nimekirjas vastuseid järgmistele küsimustele
- Mis Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia ühist
- Millised on sarnasused Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia
Võrdlus Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia
Magnetjõumikroskoopia on 20 suhted, samas Skaneeriv teravikmikroskoopia 13. Kuna neil ühist 3, Jaccard indeks on 9.09% = 3 / (20 + 13).
Viiteid
See artikkel näitab suhet Magnetjõumikroskoopia ja Skaneeriv teravikmikroskoopia. Et pääseda iga artikkel, kust teave ekstraheeriti aadressil: